結合各種識別工具，實現(xiàn)對所有粒子的測量和分析

通過讀取 SEM 或 TEM 拍攝的圖像并識別目標顆粒，自動計算粒徑分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復雜的顆粒和聚集顆粒。

Mac-View Version.5 的新功能和改進

-粒子采集模式新增“針狀”

Mac-View Version.5 的特點

■ 聚集粒子的一次粒徑分析

可以評價凝集粒子的一次粒徑，這在過去是困難的。

■ 納米粒子的評價

只要有尺度信息，無論粒度如何，都可以進行分析。

■ 多方面的分析/評估

可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度、縱橫比等）。此外，可用數(shù)據(jù)豐富，可以評估聚集粒子的初級粒子。

■ 操作簡單

無需專業(yè)知識，操作簡單，工人的熟練程度無關緊要。

■ 無需昂貴的資本投資

只要您準備好圖像（jpeg、位圖），您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。

應用示例

納米粒子、聚集粒子、粒狀體、燒結體截面、乳化粒徑等

支持軟件

■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是一款全新維度的綜合粉體分析軟件，可以對任何方法測得的“粒度分布數(shù)據(jù)”進行集中管理和分析。

■ 篩分試驗數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh

Macmesh 是一款通過大量數(shù)據(jù)消除篩選測試中的人為錯誤并高效工作的工具。