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日本sasaki koki半導(dǎo)體玻璃用非接觸式測厚儀OZUMA2 通過空氣背壓法可以進(jìn)行非接觸式測厚（非接觸式測厚），不會(huì)造成劃痕和污染等損壞。不依賴于薄膜和顏色光澤等材料，可以輕松進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量）。

日本sasaki koki半導(dǎo)體晶體非接觸式測厚儀OZUMA22 OZUMA 更新了用于半導(dǎo)體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬等的高精度非接觸式厚度測量裝置（非接觸式厚度測量裝置） . 非接觸式測厚儀OZUMA22用于控制半導(dǎo)體晶片（Si硅晶片、GaAs、鎵（Ga）砷（As））在背面拋光過程中，或在每個(gè)制造過程中的厚度（厚度）?？捎糜冢ê穸龋┛刂频姆墙佑|式測量。

日本olympus磁性測厚儀Magna-Mike 8600 瑪格納-麥克8600是一個(gè)簡單的磁性測厚儀，可以重復(fù)地測量非磁性材料以高準(zhǔn)確度的壁厚。操作非常簡單，小球或盤稱為目標(biāo)材料，電線，放置在或在測量對(duì)象一側(cè)上，通過在接觸與磁性探測從相反側(cè)你掃描，以夾住工件。使用霍爾效應(yīng)測量探針和靶材料，并實(shí)時(shí)顯示一個(gè)大的顯示器上的測量值之間的距離的傳感器。

日本olympus超聲波測厚儀38DL PLUS 創(chuàng)新的 38DL PLUS 預(yù)示著超聲波測厚儀的新時(shí)代。該手持式測厚儀適用于大多數(shù)超聲波壁厚測量的檢測應(yīng)用，可與雙振型探頭和單振型探頭的所有探頭配合使用。38DL PLUS 可用于廣泛的應(yīng)用，從使用雙振蕩器型探頭對(duì)內(nèi)部腐蝕管道的減薄測量到使用單振蕩器型探頭對(duì)薄或多層材料的精確厚度測量。

日本olympus超聲波測厚儀 45MG 45MG是一款高性能超聲波測厚儀，除了標(biāo)準(zhǔn)的腐蝕測厚功能外，還支持各種軟件選項(xiàng)的精密測厚。它是一種一體化解決方案，通過支持奧林巴斯雙振蕩器和單振蕩器厚度測量探頭，可用于廣泛的應(yīng)用。