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日本olympus超聲波測厚儀27MG 超聲波測厚儀27MG可以從一側(cè)準(zhǔn)確測量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設(shè)備結(jié)構(gòu)的壁厚減薄。它僅重 340 克，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，單手操作更方便。

日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺(tái)式測厚儀TOF-M 測量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動(dòng) 通過自動(dòng)傳輸機(jī)制實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量重復(fù)性 測量數(shù)據(jù)可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上

日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測厚儀TOF-S 實(shí)現(xiàn)高測量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件） 不易受溫度變化的影響 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。 反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測量 僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺(tái)式電容式測厚儀TOF-C2 高測量分辨率 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。 即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)行測量。 基重測量 操作簡單（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能）

日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線接觸式測厚儀TOF-6R001 模型TOF-6R001 測量方法接觸式/線性規(guī) 測量對象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等） 測量原理線規(guī)